logo

Mikroskopie skenující sondou

AutorKubínek, R.; Vůjtek, M.; Mašláň, M.
VydavatelVUP Olomouc
Rok publikace2003
Počet stran145
TypBrožovaná vazba
Další informacehttp://atmilab.upol.cz/brozura.html

Anotace

Kniha přibližuje základy mikroskopií se skenující sondou. Zabývá se teoretickým nástinem principu různých metod (STM, AFM, BEEM, SNOM) a jejich praktickými aplikacemi. Největší část knihy je věnována mikroskopii atomárních sil, jsou vysvětleny principy měření metody detekce, konstrukce mikroskopu a jednotlivých prvků. Další kapitoly jsou věnovány obecným problémům zpracování mikroskopických dat, problémy artefaků a zkreslení.